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How to get accurate EM for GaAs MIM

Question asked by June-Yi Employee on Jan 13, 2020

      使用者在评估MIM电容与其他被动元件的EM仿真精度时,需要考虑真实测试环境所贡献的误差(:测试固有误差/校正品质误差等),其中探针落点误差可能因为Wafer厚度有差异以及探针的机械误差等因素产生。在此篇报告中,我们藉由EM评估落点误差可能产生的影响性,在不同器件会呈现不同的影响性。

Outcomes