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如何对多个S参数进行扫描处理

Question asked by XUYue Employee on Sep 28, 2017

元件厂商会将元件库封装成标准的PDK,用户下载后在仿真软件中加载。用户可以使用这样的元件库进行仿真,甚至是扫描或离散优化。如果用户具备准确测试元件水平,例如准确测试元器件S参数。如何使用已经测试得到的S参数进行参数扫描呢?

本文档将介绍一种方法。

本方法也可借鉴用于S参数的离散优化等应用场景

Outcomes