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Yield Analysis in RF Design

Question asked by XUYue Employee on Sep 22, 2017

在射频元件设计中,设计好的器件在进行加工时,由于加工精度误差,采购器件批次误差等不稳定因素。使设计在加工后的成品率存在风险。本文讲述如何使用ADS对设计的器件进行统计学分析:以LNA为例,分析传输线宽度公差,材料公差,以及器件值公差。ADS可以分析出在特定公差下的,设计成品率,设计敏感变量,并可以根据敏感变量,优化调整设计。使最终设计保持更好的稳定性。

Outcomes